橢偏儀

橢偏儀

        艾利普所科技公司是2000年7月成立于韓國的一家薄膜結構分析和性能測試公司，其主要致力于薄膜的偏振分析。是由世界上著名的橢偏法專家---Kim Sang-Youl—Ajou大學的教授創立。

【主要產品】

Single Wavelength Ellipsometer, SWE   單波長

Spectroscopic Ellipsometer, SE  光譜

偏振器

綜合性橢偏儀

分光計

探針式光譜反射計(m-FFT)

遲緩(R_in, R_th, Zero Retardation )分析設備

        艾利普所科技不斷發展和提供的光學設備能夠適用于很多領域的薄膜厚度測量，比如從亞埃級到數百微米厚的薄膜，MgO 模式, OLED, LED, 太陽能電池(Solar Cell)等。

利用摩擦或光誘導技術成功地實現了定向PI層的超精密偏振測量。研制了薄膜測量系統，高鉻（<百萬：1）測量系統，輕軸彎曲測量系統（測量與偏光片補償板、粘結復合板組合的多組合面板的微偏振測量器 ）

        通過不斷的研究，艾利普所科技已成為光學薄膜分析設備的專業制造商。